1. 高低溫試驗(yàn)箱適用于航空、汽車、***電、科研等領(lǐng)域，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。以下是部分相關(guān)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范：

2. GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件：適用于高溫試驗(yàn)箱等高溫環(huán)境測(cè)試設(shè)備的設(shè)計(jì)、制造及檢測(cè)。其目的是確保高溫試驗(yàn)箱的性能、可靠性和穩(wěn)定性，以滿足各行業(yè)對(duì)高溫環(huán)境測(cè)試的需求。該規(guī)范規(guī)定了高溫試驗(yàn)箱的基本結(jié)構(gòu)、技術(shù)參數(shù)、試驗(yàn)方法和測(cè)試結(jié)果的評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)等內(nèi)容。

3. GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

4. GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）。

5. GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫（IEC60068-2-1：2007）。

6. GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫（IEC60068-2-1：2007）。

7. GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)。

8. GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)。

9. 在設(shè)計(jì)、制造和使用高低溫試驗(yàn)箱時(shí)，應(yīng)嚴(yán)格遵守相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的要求，以確保試驗(yàn)箱的質(zhì)量和性能符合要求。

(文章來源于儀器網(wǎng))