俄羅斯產(chǎn)高性價比掃描探針顯微鏡原子力顯微鏡solver p47 pro
價 格：詢價
產(chǎn) 地：更新時間：2021-01-18 15:15
品 牌：型 號：
狀 態(tài)：正常點擊量：2013
400-006-7520
聯(lián)系我時，請說明是在上海非利加實業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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上海非利加實業(yè)有限公司
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上海自提或三方快遞
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技術(shù)指標
| 樣品尺寸 | 40x40x10mm |
| 掃描器 | 3x3x1um （ ± 10%）; 10x10x2um（ ± 10%）; 50x50x3 um （ ± 10%） |
| *小掃描步長 | 0.0004 nm; 0.0011 nm; 0.006 nm |
| 掃描類型 | 樣品掃描式 |
| SPM頭部 | AFM
STM:
30pA - 50nA, 4 p時的ARMS 噪音 （標準的前置放大器）,
10pA - 5nA, 1.5 p時的ARMS噪音 （低電流前置放大器）
剪切力 |
| 光學觀察系統(tǒng) | 數(shù)值孔徑 0.1
放大倍數(shù)58x to 578x
水平視野 5,1~ 0,51mm |
| 控制系統(tǒng) | SPM 控制箱 |
| 振動隔離系統(tǒng) | 集成有被動隔離系統(tǒng)
如果需要也可用主動隔離系統(tǒng) |
產(chǎn)品優(yōu)勢
| 項目 | Solver P47 優(yōu)點 |
| 操作模式 | 1.合理的操作模式：
a. 擴展電阻成像：這個模式在表征半導體的應(yīng)用中非常有用，因為在該模式下，我們可以利用W2C 或TiO涂層的硅懸臂來測得樣品上某***點的導電率，然后和該點的表明形貌進行比較。
b. 粘附力模式：在掃描過程中，可以同時得到力－距離曲線和力的值。
c. 剪切力模式：可以用來實現(xiàn)SNOW系統(tǒng)。
d. SKM對半導體表面成分分析十分有用。
e. RM和電壓刻蝕：利用這兩個模式可以在納米尺度實現(xiàn)機械和電壓表面修飾。
2.集成測量頭
在***次掃描過程中，可以同時得到4種不同的信息。 |
| 掃描器 | NT-MDT提供***套用于校正的標準光柵（6片），用其進行掃描器的校正和針尖質(zhì)量的控制。。 |
| 樣品大小 | 大樣品也可以進行測量。 |
| 光學觀測系統(tǒng) | 多樣的光學觀測系統(tǒng)配置可以完全滿足客戶的需求。 |
| 針尖與樣品的驅(qū)近 | 1. 驅(qū)近系統(tǒng)的機械設(shè)計可使得經(jīng)過幾次驅(qū)近之后仍然能獲得相同的檢測區(qū)域。掃描位移大約為500nm，這個特點可以讓您在幾周內(nèi)仍然能夠研究相同的樣品區(qū)域。
2. 在完成驅(qū)近之后，可以對所要檢測的區(qū)域進行自動掃描，因此實驗人員只需很短的時間便可以在SPM上獲得檢測結(jié)果。
3. 允許手動驅(qū)近。 |
| 電子學 | 每個軸（X,Y和Z）通過2個16位DAC來實現(xiàn)22位的掃描精度，再加上極低的系統(tǒng)噪音，所以Solver使用50mm的掃描器也能實現(xiàn)原子***分辨率。 |
| 計算機 | 我們的顯微鏡可以在任何兼容計算機機上進行操作。如果您不想購買額外的計算機，那么您還可以將這臺用于SPM的計算機用于其他用途。 |
| 軟件 | 多樣的圖像處理方法；
圖像處理軟件可以免費在http://www.ntmdt.ru網(wǎng)站上下載；
可以處理DI,PSI, Topometrix和其他SPM廠***的數(shù)據(jù)文件樣本；
可以根據(jù)用戶需要來定制軟件。 |
| 隔震系統(tǒng) | 在通常的實驗室中，不需要增加額外的隔震系統(tǒng)（在通常的實驗室環(huán)境下就可以得到原子***圖像）。 |
| 其他優(yōu)點 | 鈦合金結(jié)構(gòu)和獨特的SPM測量系統(tǒng)設(shè)計提供了的熱漂移，讓您可以打開系統(tǒng)之后馬上就可以開始測量了。
在這方面，NT-MDT盡全力滿足客戶的期望。 |
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
