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MultiMode V SPM 是世界銷量的掃描探針顯微鏡。它能夠提供全部的原子力顯微鏡 (AFM) 和掃描隧道 (STM) 顯微鏡成像技術(shù)，可以測(cè)量樣品的表面特性，如形貌、粘彈性、摩擦力、吸附力和磁/電場(chǎng)分布等等。樣品和探針之間的簡(jiǎn)略機(jī)械設(shè)計(jì)確保了系統(tǒng)的的掃描速率和的準(zhǔn)確性。 

該系統(tǒng)集成的全新 NanoScope V控制器確保了可靠、高速的數(shù)據(jù)采集能力，采集空間可達(dá) 5000×5000 的高象素密度。因而研究人員可以在之前的SPM技術(shù)中是無法實(shí)現(xiàn)的時(shí)間分辨內(nèi)記錄和分析針尖——樣品相互作用。這種劃時(shí)代的控制器設(shè)計(jì)允許同時(shí)采集和顯示多達(dá)8個(gè)通道的圖形和數(shù)據(jù)；支持強(qiáng)大的軟件功能性和通用性；支持Easy－AFM這簡(jiǎn)約的圖形化用戶界面軟件，尤其適合于初學(xué)者以及經(jīng)常重復(fù)同***模式、同***類操作的用戶。品平移臺(tái)。

1.Multimode V產(chǎn)品手冊(cè) 
2.TappingMode Imaging: Application ａnd Technology 
3.Lateral ａnd Chemical Force Microscopy:Mapping Surface Friction ａnd Adhesion 
4.TappingMode AFM Imaging in Fluids for the Study of Colloidal Particle Adsorption 
5.Phase Imaging: Beyond Topography 
6.原子力顯微鏡扭轉(zhuǎn)共振成像模式（TR-Mode)介紹 
7.骨膠原纖維的大范圍高分辨AFM形貌圖分析 
8.探針懸臂彈性常數(shù)的使用建議 
9.單個(gè)細(xì)菌粘附的AFM形貌及力譜研究 
10.原子力顯微鏡探針彈性系數(shù)的熱調(diào)制測(cè)定法 
11.如何用原子力顯微鏡探測(cè)DNA與蛋白質(zhì)間的相互左右 
12.用原子力顯微鏡直接表征單個(gè)免疫復(fù)合物形成機(jī)理 
13.AFM與SEM：高分辨率表征手段上的互補(bǔ) 
14.液態(tài)環(huán)境中的輕敲模式

多達(dá)5120×5120象素的圖像可以大大減少等待結(jié)果的時(shí)間，用戶不必再費(fèi)力地***遍遍地去改變圖像觀察和數(shù)據(jù)采集的位置，或者將***些低象素?cái)?shù)的圖像拼合在***起以獲得大范圍高分辨圖像。 

使用該控制器，用戶可以方便地通過前置面板上的BNC接口輸入和輸出絕大多數(shù)的信號(hào)。用戶可以將來自外部信號(hào)源（如光電倍增管）輸入控制器；可以將信號(hào)傳遞給鎖相放大器；也可以獲取和分析顯微鏡的數(shù)據(jù)或?qū)⑵浞答伣o顯微鏡（如XYZ傳感器信號(hào)、振幅、相位等）。這些功能可以被任何基于Microsoft組件對(duì)象模塊（Component Object Model, COM）的外部軟件所調(diào)用。 

EASY-AFM，重要的操作簡(jiǎn)化為了使整體的操作流程簡(jiǎn)單易行，NanoScope V控制器支持Easy-AFM?傻瓜式界面控制軟件，提供***種易學(xué)易用的圖形化用戶界面。對(duì)于大多數(shù)樣品，Easy-AFM均可以大大縮短樣品測(cè)試所耗費(fèi)的時(shí)間，這取決于改控制界面簡(jiǎn)化了從儀器初始化過程（包括探針、激光和檢測(cè)器的調(diào)節(jié)）、探針逼近樣品、掃描參數(shù)調(diào)節(jié)到獲得TappingMode圖像的全過程。.