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現(xiàn)在位置：首頁>光學(xué)儀器>電子顯微鏡> 場發(fā)射掃描電鏡

商品編號：71270

日立L型FIB-SEM-Ar三束系統(tǒng)NX9000

價(jià) 格：詢價(jià)

產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-18 15:23

品牌：型號：NX9000

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產(chǎn)品介紹：

NX9000可以自動重復(fù)進(jìn)行FIB制備截面和掃描電鏡觀察，能夠獲得***系列的截面圖像，從而實(shí)現(xiàn)特定顯微切片的三維結(jié)構(gòu)分析。NX9000中的SEM鏡筒和FIB鏡筒呈正交結(jié)構(gòu)，而不是常見的對角構(gòu)造。這種形式是進(jìn)行三維結(jié)構(gòu)分析*理想的結(jié)構(gòu)，能夠穩(wěn)定收集準(zhǔn)確反映樣品的真實(shí)結(jié)構(gòu)的圖像。

主要特點(diǎn)：

1. 高分辨SEM冷場發(fā)射電子槍1.6nm@15kV，高襯度成像

2. SEM和FIB鏡筒垂直，能進(jìn)行更真實(shí)的三維結(jié)構(gòu)分析

3. 可實(shí)現(xiàn)觀察加工過程

4. 全自動TEM樣品制備

5. 高精度加工

6. 可選Ar和Xe離子源

應(yīng)用領(lǐng)域：

1. 新材料

2. 納米材料

3. 電子元器件研發(fā)

4. 生物結(jié)構(gòu)研究