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 北京飛凱曼科技公司提供高性價比FPS50型F-P掃描干涉儀。F-P掃描干涉儀是19世紀末法***物理學***發(fā)明的，是利用多光束干涉產生十分細銳的干涉條紋的重要光譜儀器。廣泛用于光譜線的精細結構和超精細結構的研究，以了解物質的內部結構。歷史上，科學***曾利用F-P干涉儀精確測定了里德伯常數(shù)；發(fā)現(xiàn)了蘭姆位移等。隨著科技的進步，其應用范圍不斷擴大，現(xiàn)在F-P干涉在光學測量方面對位移測量的精度已進入納米量***。 

F-P掃描干涉儀是***種基于薄膜分振幅干涉原理實現(xiàn)不等強度多光束干涉的典型實驗裝置。它具有很高的分辨本領和集光本領，因此常用于分析光譜的超精細結構，研究光的塞曼效應和物質的受激布里淵散射，精確比較測定光波波長和波長差，以及激光選模等項工作中。     

應用相關理論對F-P干涉儀進行研究分析，分析研究它的色分辨本領,及涉及的因素,對如何提高干涉儀的色分辨本領和改進干涉儀有廣泛的意義。

產品功能和特點：

1）     測試儀集成度高，免維護；

2）     適用于多種波長；

3）     多種精細常數(shù)可選；

4）     高性價比。

技術參數(shù)：

1）        干涉儀結構：可調自由光譜區(qū)，平行平板結構

2）        適用波長：473、532、632.8、680、850、980、1064、1310、1319nm等

3）        精細常數(shù)：50、100、200等

4）        掃描頻率：1-100Hz

5）        掃描波形：鋸齒波（0-200V）

應用：

激光器的縱模觀察和測量

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