cindbest高低溫真空探針臺
價(jià) 格：詢價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-05-12 14:45
品 牌：其他型 號：CG0系列
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2959
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低溫和高溫真空探針臺 CINDBEST真空環(huán)境高低溫測試技術(shù) 以下兩個(gè)應(yīng)用需要真空測試環(huán)境。 極低溫測試: 因?yàn)榫A在低溫大氣環(huán)境測試時(shí)，空氣中的水汽會凝結(jié)在晶圓上，會導(dǎo)致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內(nèi)的水汽在測試前用泵抽走，并且保持整個(gè)測試過程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。 高溫?zé)o氧化測試： 當(dāng)晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時(shí)，氧化現(xiàn)象會越來越明顯，并且溫度越高氧化越嚴(yán)重。過度氧化會導(dǎo)致晶圓電性誤差，物理和機(jī)械形變。避免這些需要把真空腔內(nèi)的氧氣在測試前用泵抽走，并且保持整個(gè)測試過程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。 晶圓測試過程中溫度在低溫和高溫中變換，因?yàn)闊崦浝淇s現(xiàn)象，定位好的探針與器件電極間會有相對位移，這時(shí)需要針座的重新定位，CINDBEST針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動化針座來調(diào)整探針的位置。 CGO-C-4(閉循環(huán))/CGO-O-4(開循環(huán))特點(diǎn)： |
載物Chuck 溫度范圍：4.2K-480K 外置4個(gè)定位針臂 探針X-Y-Z三方向移動，行程：25mm，定位精度：10微米 *多可以外置6個(gè)定位針臂 載物chuck 可到2寸 雙屏蔽chuck高低溫時(shí)達(dá)到100FA 的測試精度 針臂定位精度可以升***為0.7微米 極限真空到10-10 torr 可以選擇射頻配件做67 GHz的射頻測試 可以選擇防震桌 可以選擇超高真空腔體 客戶訂制 |
溫控規(guī)格: 控溫范圍4K-480K控溫精度0.1K溫度穩(wěn)定性4 K + - 0.2 K 77 K + - 0.1 K 373 K + - 0.08 K 473 K + - 0.1 K 823 K + - 0.2 K(可選) 973 K + - 1.0K(可選)常溫到8K冷卻時(shí)間:1小時(shí)40分鐘8K到常溫升溫時(shí)間:1小時(shí)30分鐘 從常溫開始的升溫時(shí)間 200 ℃ 550℃ 700 ℃ (4 chuck，單位分：秒)1:00 1:30 2:00電源直流材質(zhì)不銹鋼功率(4chuck) 850W 機(jī)械規(guī)格 針座行程 X軸方向25.4mm(1 inch) 可以選擇50.8mm Y軸方向25.4mm(1 inch) 可以選擇50.8mm Z軸方向25.4mm(1 inch) 可以選擇50.8mm 移動精度 X軸方向10 micron 可以選擇0.35,0.7,5,10 or 20 micron Y軸方向10 micron 可以選擇0.35,0.7,5,10 or 20 micron Z軸方向10 micron 可以選擇0.35,0.7,5,10 or 20 micron 探針可旋轉(zhuǎn)角度+-5 度 光學(xué)部件規(guī)格 顯微鏡X-Y軸方向行程2"*2" 可以選擇4"*4"總共放大倍率240X 可以選擇更高倍率真空腔觀察窗口2 inch 外部石英材質(zhì)99%紅外線穿過率 內(nèi)部吸收紅外線僅可見光通過光源150W可連續(xù)調(diào)節(jié)雙光纖導(dǎo)引 可選附件 防震桌 方形chuck 分子泵組 射頻部件 Chuck可外部移動裝置 客戶定制。 |
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
