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儀器簡介：
JEM-2100F 應(yīng)用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體到納米技術(shù)。

利用200kV場發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實(shí)現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。
高亮度的場發(fā)射電子槍，輕松實(shí)現(xiàn)各種分析功能。

JEM-2100F*新設(shè)計的側(cè)插式側(cè)角臺，在傾斜、旋轉(zhuǎn)、加熱、制冷時都不會造成機(jī)械飄移。

SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實(shí)現(xiàn)***體化控制。



技術(shù)參數(shù)：
1.點(diǎn)分辨率：0.19nm
2.線分辨率：0.14nm
3.加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV
4.傾斜角：25
5.STEM分辨率：0.20nm


主要特點(diǎn)：
1.高亮度場發(fā)射電子槍。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式側(cè)插測角臺，更容易傾轉(zhuǎn)、旋轉(zhuǎn)、加熱和冷凍，無機(jī)械飄移。
4.穩(wěn)定性好、操作簡便。
5.微處理器和PC兩套系統(tǒng)控制，防止死機(jī)。