Sonoscan超聲波掃描顯微鏡
――超聲波無損檢測(cè)系統(tǒng)
從實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)車間，Sonoscan的聲學(xué)顯微鏡儀器和技術(shù)可以幫助您生產(chǎn)更高質(zhì)量的產(chǎn)品。Sonoscan儀器有著極高的技術(shù)含量，并且提供***流的客戶服務(wù)和支持。
FastLine? P300?
***種緊湊型聲學(xué)顯微監(jiān)控儀，專為工廠提供的生產(chǎn)和過程控制。
FACTS2?
高***質(zhì)量監(jiān)控儀器，可以以生產(chǎn)速度提供高分辨率的聲學(xué)顯微成像，并且只需操作員做極少的控制。
AW?系列
自動(dòng)晶圓系列的超聲顯微檢測(cè)設(shè)備，可以自動(dòng)處理，檢測(cè)和并根據(jù)操作人員制定的"合格與不合格"標(biāo)準(zhǔn)對(duì)晶圓進(jìn)行分類。
Gen6?
新***代具有技術(shù)創(chuàng)新，尖端技術(shù)和無與倫比的功能的C-SAM®,把超聲顯微成像帶上了***個(gè)新的水平。
Gen5?
***種創(chuàng)新的聲學(xué)顯微監(jiān)控儀，可提供*廣泛和的功能。
D9?系列
這個(gè)系列的設(shè)備引領(lǐng)聲像顯微技術(shù)的新標(biāo)準(zhǔn)。為失效分析，工藝開發(fā)和材料特性檢測(cè)提供了無與倫比的***和靈活性。
D24?
超大的掃描區(qū)（24” × 24”），非常適合較大面積的樣品檢驗(yàn)、印刷電路板元件檢驗(yàn)和多種JEDEC 盤檢驗(yàn)。
Sonoscan技術(shù)
AMI技術(shù)的杰出之處在于其能夠在組件和材料中找出可能在生產(chǎn)或環(huán)境測(cè)試過程中出現(xiàn)的隱藏的缺陷。相比其他檢驗(yàn)方法，使用AMI技術(shù)可以更有效地識(shí)別和分析分層、氣泡和裂縫等缺陷。
不同于X射線和紅外成像等其他無損檢測(cè)技術(shù)，AMI技術(shù)對(duì)材料彈性有著極強(qiáng)的敏感性。正因?yàn)槿绱耍?/span>AMI查找和定性這些物理缺陷的能力明顯要優(yōu)越很多。AMI通常可應(yīng)用于生產(chǎn)控制、破損分析和產(chǎn)品開發(fā)。
Sonoscan提供多種成像模式，操作員可以根據(jù)樣品內(nèi)部取向特征獲得有關(guān)檢驗(yàn)樣品的*佳透視圖。此外，通過利用我們的專有功能，Sonoscan可以提供*佳的圖像、的效率和*理想的結(jié)果。
AMI技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)
? 在出故障之前把隱藏的缺陷找出來
? 將薄達(dá)200埃的脫層檢測(cè)出來
? 材料性能變化定位
? 測(cè)量材料密度，孔隙度，夾雜物
? 探測(cè)裂縫和孔洞
? 評(píng)估熱，沖擊和疲勞損傷
? 對(duì)被測(cè)材料無損傷
地位
在聲學(xué)顯微成像（AMI）技術(shù)應(yīng)用于內(nèi)部品質(zhì)無損檢測(cè)與分析方面，Sonoscan***直是該行業(yè)的權(quán)威。Sonoscan系統(tǒng)被視為精確基準(zhǔn)，通過我們的SonoLab? 部門，您可以向我們的聲學(xué)應(yīng)用工程師進(jìn)行咨詢，獲取專業(yè)意見和指導(dǎo)。
Sonoscan的創(chuàng)始人與總裁Lawrence Kessler博士是***位超聲波學(xué)與成像系統(tǒng)領(lǐng)域的專***。Kessler博士致力于通過教育項(xiàng)目、客戶應(yīng)用程序評(píng)估與新系統(tǒng)開發(fā)來實(shí)現(xiàn)AMI技術(shù)的持續(xù)改進(jìn)。 對(duì)AMI技術(shù)的專業(yè)研究是Sonoscan工作的核心。我們努力提供非凡的數(shù)據(jù)精確性、出眾的圖像質(zhì)量和世界的技術(shù)。我們?cè)?/span>AMI技術(shù)方面還擁有多項(xiàng)美***和外***。 總之，Sonoscan是您*值得信任的伙伴，我們可以為您節(jié)省成本并提高效率。
與 Sonoscan 合作的業(yè)界***：
? 全球10大半導(dǎo)體公司
? 10大汽車半導(dǎo)體公司中的9***公司
? 10大 ***防承包商中的7***承包商
? 5大MEMS生產(chǎn)商中的4***生產(chǎn)商
市場(chǎng)應(yīng)用
Sonoscan 系統(tǒng)與SonoLab實(shí)驗(yàn)室服務(wù)可滿足多種樣品檢驗(yàn)需要，并可以檢測(cè)到使用傳統(tǒng)檢驗(yàn)方法無法檢測(cè)到的隱蔽缺陷。
應(yīng)用領(lǐng)域包括：
微電子學(xué)領(lǐng)域
- 塑料封裝IC
- 陶瓷電容器
- 模片固定、載芯片板（COB）
- 芯片型封裝（CSP）
- 倒裝晶片
- 堆疊型封裝
- 卷帶式自動(dòng)接合（TAB）
- 混和技術(shù)、MCM、SIP
- 柔性電路
- 印刷電路板（PCB）
- 智能卡
- 粘結(jié)晶片
- IMEMS
微電子機(jī)械系統(tǒng) (MEMS)
- 粘結(jié)晶片
- 制造工藝評(píng)估
- 包裝
軍事/航空/汽車
- 高可靠性資格篩選
- 產(chǎn)品升***篩選
- 資格篩選
IGBT 功率模塊
用超聲檢測(cè)GBT模塊
材料
- 陶瓷、玻璃
- 金屬、粉末金屬
- 塑料
- 合成物
其他
- 芯片實(shí)驗(yàn)室、生物芯片和微陣列芯片
- 濾筒
- 包裝、密封
- 微射流技術(shù)
- 聚乙烯/箔袋
- 焊件
- 傳感器
滬公網(wǎng)安備31011502016460號(hào)
